薄膜測厚儀采用機械式測量方法，適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的厚度測量。另外具有電腦通信接口，通過選購軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)的性存儲、查詢、打印；軟件功能強大，可將成組試驗數(shù)據(jù)用柱形圖或列表方式進行統(tǒng)計，試結(jié)報告可直接在局域網(wǎng)或廣域網(wǎng)中進行傳輸。適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
薄膜測厚儀特點
1.通過顯微光譜法測量高精度反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）；
2.頭部集成了薄膜厚度測量所需功能；
3.區(qū)域傳感器的安全機制；
4.顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）；
5.高速測量；
6.測量頭對應(yīng)各種客制化需求；
7.易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析；
8.支持各種自定義。
機械式測厚儀是一種接觸式測厚設(shè)備，多采用高精度傳感器，因為它的測試只和微小位移有關(guān)，所以對試樣沒有選擇性。機械式測厚儀的測試精度主要取決于位移傳感器的精度，環(huán)境溫度和風速會影響傳感器的精度，因此必須在實驗室環(huán)境內(nèi)使用。
薄膜測厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進行測量，可進行高精度膜厚度、光學(xué)常數(shù)分析。可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件。
